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Microtest Mic-6630-03 10Hz~3MHz + DIP Probador de analizador de impedancia de antena NFC
Microtest Mic-6630-03 10Hz~3MHz + DIP Probador de analizador de impedancia de antena NFC
 
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Precio: $7,725.00 Dolares + IVA


Disponibilidad: 6 a 8 Semanas
Codigo del Producto: MIC-6630-03

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El diseño y ajuste de la frecuencia de resonancia de una bobina NFC es fundamental para la calidad de la bobina NFC. Los diseñadores deben mantener la frecuencia en el extremo de transmisión y el extremo de recepción cerca del punto de resonancia para obtener una mejor eficiencia de transmisión y calidad de aplicación en el pago móvil. La solución de prueba de línea de inducción NFC de Microtest puede cumplir con las características más buscadas por los fabricantes de FPC de múltiples bobinas FPC de aplicación NFC que se prueban de una sola vez. Su tecnología exclusiva de pruebas multicanal a alta frecuencia de hasta 13,56 MHz permite a los operadores de la línea de producción ejecutar una inspección automática para las características de impedancia de alta frecuencia de 10 Hz a 20 MHz de más de 32 unidades de bobinas de paneles múltiples. Gracias a las funciones de escaneo automático multicanal, toda la prueba dura solo de 6 a 8 segundos (para un diseño de 32 bobinas).

El medidor LCR de precisión 6630 proporciona siete opciones de frecuencia (10 Hz a 1/3/5/10/20/30 / 50MHz), es adecuado para los test LCR de señales de CA. La medición en un entorno que cambia continuamente se puede ejecutar paso a paso con la frecuencia y el grado de la prueba, y las pruebas continuas de alta velocidad se pueden realizar en diferentes condiciones de prueba y modo. El 6630 tiene una impedancia de salida de 25 Ω / 100 Ω que se puede cambiar, control de nivel automático (ALC), función de modo de lista. Función de comparación y función de clasificación BIN del manipulador para la clasificación de productos defectuosos y componentes buenos. Admite RS-232 、 GPIB 、 Handler 、 LAN 、 USB Host / Device. El 6630 también admite una variedad de accesorios, como el dispositivo de prueba de material dieléctrico líquido, el dispositivo de prueba de material dieléctrico y el dispositivo de prueba de material magnético.

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