• Ambiente intuitivo de apuntar y hacer clic basado en Windows
• Preamplificadores remotos que extienden la resolucion a 0.1fA
• Capacidades nuevas de I-V pulsadas para prueba avanzada de semiconductores
• Con la nueva tarjeta de osciloscopio integra mediciones de pulso y osciloscopio
• PC embebida proveen una configuracion rapida de la prueba, analisis poderoso de los datos, graficacion e impresion. Ademas de una capcidad de almacenamiento en mas de los resultados de las pruebas 
• El navegador de proyectos organiza las pruebas por tipo de dispositivo, permite el acceso a multiples pruebas y provee un control de la secuencia y repeticion de la prueba
• Incluye mediciones de stress, repeticiones, analisis de datos, incluye cinco pruebas de complianza JEDEC
• Soporte integrado para una variedad de medidores de LCR, configuracion de switcheo de matices Keithley e integracion con generadores de pulso Keithley Serie 3400 y Agilent 81110
• Incluye software drivers para Microtech Summit 12K Series, Karl Suss Model PA-200 y Model PA-300, Micromanipulator Model 8860, Signatone CM500 Prober, y probadores manuales
• Soporte a modelaje de semiconductores incluyendo Keithley supplied IC-CAP device modeling package driver y soporte para Cadence BSIM ProPlus/Virtuoso y herramientas de modelaje Silvaco UTMOST
• Una alternativa para remplazar los trazadores de curvas obsoletos Tektronix 370, 371, 370A, 371A, 370B y 371B. 

El modelo Sistema de Caracterizacion de Semiconductores 4200-SCS reqaliza caracterizacion de dispositivos a nivel laboratorio en pruebas pulsadas de DC, graficacion en tiempo real, y analisis con alta precision y resolucion de sub-femtoamperes. El 4200-SCS ofrece las capacidades mas avanzadas disponibles en un sistema de caracterizacion totalemente integrado, incluyendo una computadora PC con sistema operativo Windows. Its self-documenting, point-and-click interface speeds and simplifies the process of taking data, so users can begin analyzing their results sooner. Additional features enable stress-measure capabilities suitable for a variety of reliability tests.

• Dispositivos Semiconductores
• - Prueba parametrica On-wafer
• - Wafer level reliability
• - Caracterizacion de dispositivos empaquetados
• - Caracterizacion C-V/I-V con el control externo de un medidor de LCR
• - High K gate charge trapping
• - Prueba Isotermica para dispositivos y materiales sujetos a efectos de autocalentemiento
• - Carga de bombeo y caracterizacion de estado de densidad de interface en dispositivos MOSFET
• - Caracterizacion de MEMS drive resistiva o capacitiva 
• Dispositivos Optoelectronicos
• - Caracterizacion de semiconductores diodos laser DC/CW
• - Caracterizacion DC/CW para modulos transceiver
• - Caracterizacion de parametros PIN y APD
• Desarrollo de Tecnologia
• - Caracterizacion de Carbon nanotube
• - Investigacion de Materiales
• - Electroquimica